產(chǎn)品詳情
局部放電檢測儀的局部放電電檢測法，即是基于電荷轉(zhuǎn)移和電磁輻射這兩個原理。
介質(zhì)損耗分析法(Dielectric loss analysis， DLA)局部放電對絕緣材料的破壞作用與局部放電消耗的能量直接相關，因此對放電消耗功率的測量能夠定性反映出局部放電性質(zhì)。
Tgo能夠反映介質(zhì)損耗， 介質(zhì)損壞將導致tgo增加。因此可以通過測量tgo值來反映局部放電能量，從而判斷絕緣材料和結構的性能情況。
介質(zhì)損耗分析法(Dielectric loss analysis，DLA)介質(zhì)損耗分析法特別適用于測量低氣壓中存在的輝光或者亞輝光放電。
輝光放電不產(chǎn)生放電脈沖信號，而亞輝光放電的脈沖上升沿時間太長，普通的脈沖電流法檢測裝置中難以檢測出來。
但這種放電消耗的能量很大，使得tgo很大，故只有采用電橋法檢測tgo才能判斷這種放電的狀態(tài)和帶來的危害。
介質(zhì)損耗分析法方法只能定性測量局部放電是否發(fā)生，不能檢測局部放電量的大小， 這限制了介質(zhì)損耗分析法方法的運用?？梢圆捎媒橘|(zhì)損耗分析法判斷是否存在局部放電，然后再結合武漢市合眾電氣局部放電檢測儀檢測局部放電量的大小。
