產品詳情
特性和規(guī)格包括：
應用
手動或自動高分辨率 DC
半導體的參數表征
即將到來的檢查
制造測試
過程監(jiān)控和質量控制
數據表生成
元器件匹配
故障分析
工程
半導體器件的高功率測量
高達 3,000 伏特
高達 400 安培
高達 3,000 瓦
波形比較
信封展示
波形平均
3.5 英寸 MS DOS 兼容磁盤存儲
曲線跟蹤器是高分辨率曲線跟蹤器的世界標準，用于各種應用。該曲線跟蹤器執(zhí)行晶閘管、SCR 和功率 MOSFET 的直流參數表征。
高壓集電極模式允許測試高達 3,000 伏的器件的關閉特性。脈沖高電流集電極模式提供大于 400 安培峰值的輸出電流脈沖，用于測試導通特性。
它還允許進行高達 3,000 瓦的高功率測試。在研發(fā)實驗室中，Tektronix 371A Curve Trace 用于表征新設計、提取 SPICE 參數、故障分析和數據表生成。
應用
手動或自動高分辨率 DC
半導體的參數表征
即將到來的檢查
制造測試
過程監(jiān)控和質量控制
數據表生成
元器件匹配
故障分析
工程
半導體器件的高功率測量
高達 3,000 伏特
高達 400 安培
高達 3,000 瓦
波形比較
信封展示
波形平均
3.5 英寸 MS DOS 兼容磁盤存儲
曲線跟蹤器是高分辨率曲線跟蹤器的世界標準，用于各種應用。該曲線跟蹤器執(zhí)行晶閘管、SCR 和功率 MOSFET 的直流參數表征。
高壓集電極模式允許測試高達 3,000 伏的器件的關閉特性。脈沖高電流集電極模式提供大于 400 安培峰值的輸出電流脈沖，用于測試導通特性。
它還允許進行高達 3,000 瓦的高功率測試。在研發(fā)實驗室中，Tektronix 371A Curve Trace 用于表征新設計、提取 SPICE 參數、故障分析和數據表生成。
在制造測試中，它用于驗證設備質量和過程監(jiān)控。
需要可以在網頁上搜索《深圳市寶安區(qū)沙井方豐瑞儀器設備經營部》可找到我們哦~
