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湖南鐵粉品位檢測(cè)設(shè)備哪里賣

QCYQ-JS9000B 礦石專用光譜分析儀主要應(yīng)用于采礦作業(yè)(勘探、開(kāi)采、品位控制),工業(yè)礦物,生產(chǎn)水泥和建筑材料的原材料,耐火材料,陶瓷和玻璃,地球化學(xué)學(xué)術(shù)研究,考古等。線性動(dòng)態(tài)范圍,可實(shí)現(xiàn)在水泥、礦物、采礦、金屬、玻璃和陶瓷行業(yè)進(jìn)行精度的過(guò)程控制和質(zhì)量控制。具有全新真空光路系統(tǒng)和分辨率技術(shù)的新一代fast sdd檢測(cè)器,對(duì)輕、中、重元素和常見(jiàn)氧化物(Na2o、Mgo、Al2o3、Sio2、P2o5、So、k2o、Cao、Tio2、Cr2o、Mno、Fe2o、Zno和sro等)都可達(dá)到分析效果。

分析性能,使其可以輕松完成對(duì)以下礦種的測(cè)試:

鐵礦(磁鐵礦、赤鐵礦、鈦鐵礦、菱鐵礦等)

銅礦(黃銅礦、赤銅礦、孔雀石等)       鉻礦(鉻鐵尖晶石、鉻鐵礦、鉻鉍礦等)

鉬礦(輝鉬礦、銅鉬礦、鎢鉬礦等)      鎢礦(白鎢礦、黑鎢礦、錫鎢礦等)

鉭礦(鉭鐵礦、鈮鐵礦、燒綠石等)       鉛鋅礦(方鉛礦、閃鋅礦、白鉛礦等)

鎳礦(紅土鎳礦、硫化銅鎳礦等)          鋁土礦   其它礦類

產(chǎn)品特點(diǎn)

1.小型化、高性能、高速度、易操作,高靈敏度、高精度分析

2.可同時(shí)分析40種元素

3.采用多準(zhǔn)直器多濾光片和扣背景技術(shù)

  1. Peltier電制冷 FAST SDD硅漂移檢測(cè)器提供出色的短期重復(fù)性和長(zhǎng)期再現(xiàn)性以及出色的元素峰分辨率

5.超高記數(shù)數(shù)字多道電路設(shè)計(jì),雙真空抽速機(jī)構(gòu),真空度自動(dòng)穩(wěn)定系統(tǒng)

6.標(biāo)配基本參數(shù)法軟件,多任務(wù),多窗口操作

7.薄膜濾光片技術(shù),有效提高輕元素檢出限

>儀器參數(shù)

儀器外觀尺寸: 565mm*385mm*415mm

超大樣品腔:465mm*330mm*110mm

半封閉樣品腔(抽真空時(shí)):Φ150mm×高75mm

儀器重量: 48Kg

元素分析范圍:Na11-U92鈉到鈾

可分析含量范圍:1ppm- 99.99%

探測(cè)器:AmpTek 超高分辨率電制冷Fast SDD硅漂移檢測(cè)器

探測(cè)器分辨率:122 eV FWHM at 5.9 keV

處理器類型:全數(shù)字化DP-5分析器

譜總通道數(shù):4096道

X光管:高功率50瓦光管(原裝進(jìn)口管芯),冷卻方式:硅脂冷卻

光管窗口材料:鈹窗

準(zhǔn)直器:多達(dá)8種選擇,最小0.2mm

濾光片:7種濾光片的自由選擇和切換

高壓發(fā)生裝置:原裝美國(guó)高壓,電壓輸出:0-50kV;輸出電流:0-1mA

高壓參數(shù):最小5kv可控調(diào)節(jié),自帶電壓過(guò)載保護(hù),輸出精度:0.01%

樣品觀察系統(tǒng):500萬(wàn)像素高清CCD攝像頭

電壓:220ACV 50/60HZ

環(huán)境溫度:-10 °C 到35 °C

 

 

儀器配置

>標(biāo)準(zhǔn)配置

>可選配置

純Ag初始化標(biāo)樣

磨樣機(jī)

真空泵

壓片機(jī)

礦石專用樣品杯

烘干箱

USB數(shù)據(jù)線

全自動(dòng)熔樣機(jī)

電源線

電子秤

測(cè)試薄膜

礦石標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)

儀器出廠和標(biāo)定報(bào)告

交流凈化穩(wěn)壓電源

保修卡

150目篩子

全新設(shè)計(jì)的XTEST分析軟件

軟件內(nèi)核包括基本參數(shù)法(FP),經(jīng)驗(yàn)系數(shù)法(EC),可輕松分析各類樣品。

光譜處理參數(shù)包括用于定義背景連續(xù)性,堆積峰和峰總和,平滑度以及測(cè)量到的峰背景光譜的數(shù)量

對(duì)吸收以及厚膜和薄膜二次熒光的完全校正,即所有基質(zhì)效應(yīng),增強(qiáng)和吸收。

譜顯示:峰定性,KLM標(biāo)記,譜重疊比較,可同時(shí)顯示多個(gè)光譜圖

可以通過(guò)積分峰的凈面積或使用測(cè)得的參考光峰響應(yīng),將光峰強(qiáng)度建模為高斯函數(shù)。

可以使用純基本參數(shù)方法,具有分散比的基本參數(shù)(對(duì)于包含大量低Z材料的樣品)或通過(guò)簡(jiǎn)單的最小二乘擬合進(jìn)行定量分析。

基本參數(shù)分析可以基于單個(gè)多元素標(biāo)準(zhǔn),多個(gè)標(biāo)準(zhǔn)或沒(méi)有標(biāo)準(zhǔn)的樣品。

 

QCYQ-YS4B型電腦多元素分析儀

一、儀器原理

    本機(jī)以光度分析為基礎(chǔ),通過(guò)采用以微電流向左擴(kuò)展標(biāo)尺,光電流向右擴(kuò)展標(biāo)尺,實(shí)現(xiàn)了大范圍的線性化,避免了在光度法分析中濃度較大的溶液偏離比爾定律、線性差、分析結(jié)果誤差較大的缺陷。在本分析方法中采用了穩(wěn)定的快速準(zhǔn)確的顯色體系和系統(tǒng)分析流程,解決了多元素間的相互干擾問(wèn)題,分析結(jié)果準(zhǔn)確可靠,其分析過(guò)程如下所示:

樣品→ 制樣→ 稱量→ 熔樣→ 浸取→ 顯色→ 測(cè)定→ 數(shù)據(jù)處理→ 結(jié)果打印輸出→ 分析結(jié)束

二、儀器特點(diǎn)

   1、儀器是根據(jù)光度分析原理研制而成的新型光度分析儀。

   2、采用先進(jìn)的技術(shù),可以使高濃度范圍保持優(yōu)良的線性精度。儀器穩(wěn)定性好,重現(xiàn)性好,尤其適合現(xiàn)場(chǎng)快速分析。

3、采用計(jì)算機(jī)數(shù)據(jù)處理系統(tǒng),更適用于對(duì)多個(gè)樣品的聯(lián)測(cè)  

  4、專門研究配套了穩(wěn)定可靠的光度分析系統(tǒng)流程。適用于地礦質(zhì)及其產(chǎn)品等檢測(cè)領(lǐng)域。             

        化驗(yàn)室要求      

化驗(yàn)室必須有流動(dòng)水, 排風(fēng)系統(tǒng).

電源電壓220V±10%  380V±10%

有穩(wěn)壓裝置和接地

操作間15-20平米的房間

放儀器設(shè)備要求操作臺(tái)面,寬約70cm 高約80cm長(zhǎng)順?lè)块g的三面

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