產(chǎn)品詳情
運(yùn)轉(zhuǎn)環(huán)境的檢查。
⑴PLC運(yùn)轉(zhuǎn)環(huán)境溫度在0～60℃。溫度過高將使得PLC內(nèi)部元件功能惡化和毛病添加，尤其是CPU會因“電子搬遷”表象的加快而下降PLC的壽數(shù)。溫度偏低，模仿回路的安全系數(shù)也會變小，超低溫時能夠致使操控體系動作不正常。處置的方法是在操控柜裝置適宜的軸流電扇或許加裝空調(diào)，并留意常常檢查。
⑵環(huán)境相對濕度在5%～95％之間。在濕度較大的環(huán)境中，水分簡單通過模塊上的IC的金屬表面的缺點(diǎn)侵入內(nèi)部，致使內(nèi)部元件功能的惡化，使內(nèi)部絕緣功能下降，會因高壓或浪涌電壓而致使短路；在極端枯燥的環(huán)境下，MOS集成電路會因靜電而致使擊穿。
⑶定時吹掃內(nèi)部塵埃，以確保風(fēng)道的疏通和元件的絕緣。
⑷檢查PLC的裝置狀態(tài)。各PLC單元固定是不是結(jié)實(shí)，各種I/O模塊端子是不是松動，PLC通訊電纜的子母連接器是不是刺進(jìn)并旋緊，外部連接線有無損害。
⑸檢查PLC的程序存儲器的電池是不是需求替換。
聯(lián)系人：小葉
公司名稱：福建鴻飛達(dá)自動化科技有限公司
公司地址：福州市閩侯高新區(qū)正榮財富中心（SOHOB座8層)
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先測試出可控硅的峰值電壓，將電線正負(fù)極連接至K兩極，接地線接至室內(nèi)主接地上，逐漸升壓，測試其漏電流數(shù)值。進(jìn)行漏電測試后，逐漸升壓，觀測漏電流，當(dāng)數(shù)值超過其額定峰值電壓后，可控硅被擊穿，但采用此方法可能會破壞其PN結(jié)，并且只能測試其是否導(dǎo)通，而不能測試其導(dǎo)通是否良好，故不再采用此法進(jìn)行測試。搖表測試法用搖表對可控硅進(jìn)行測量，參照之前使用的漏電檢測法。為防止搖表法測試過程中擊穿或損壞可控硅，改變搖表操作方法，即要對搖表電壓和轉(zhuǎn)速進(jìn)行控制，兩筆端鏈接K極對其進(jìn)行測試。
AB羅克韋爾1746-C16模塊
