產(chǎn)品詳情
廣東深圳cindbestCM-4小型手動探針臺廠家
4寸手動探針臺
適合4英寸以內(nèi)樣品測試
體積小巧，可作為手套箱內(nèi)探針臺
CS探針臺能夠勝任的測試有：
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序號 |
根據(jù)測試樣品分類 |
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序號 |
根據(jù)應(yīng)用分類 |
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1 |
晶圓測試 |
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1 |
射頻測試 |
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2 |
LED測試 |
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2 |
高溫環(huán)境測試 |
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3 |
功率器件測試 |
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3 |
低電流（100fA 級）測試 |
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4 |
MEMS測試 |
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4 |
I-v/c-v/p-iv測試 |
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5 |
PCB測試 |
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5 |
高壓，大電流測試 |
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6 |
液晶面板測試 |
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6 |
磁場環(huán)境測試 |
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7 |
太陽能電池片測試 |
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7 |
輻射環(huán)境測試 |
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8 |
材料表面電阻率測試 |
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9 |
積分球測試 |
廣東深圳cindbestCM-4小型手動探針臺廠家
探針臺的使用
1. 將樣品載入真空卡盤，開啟真空閥門控制開關(guān)，使樣品安全且牢固地吸附在卡盤上。
1. 使用卡盤X軸/Y軸控制旋鈕移動卡盤平臺，在顯微鏡低倍物鏡聚焦下看清楚樣品。
1. 使用卡盤X軸/Y軸控制旋鈕移動卡盤平臺將樣品待測試點移動至顯微鏡下。
1. 顯微鏡切換為高倍率物鏡，在大倍率下找到待測點，再微調(diào)顯微鏡聚焦和樣品x-y，將影像調(diào)節(jié)清晰,帶測點在顯微鏡視場中心。
1. 待測點位置確認好后,再調(diào)節(jié)探針座的位置,將探針裝上后可眼觀先將探針移到接近待測點的位置旁邊,再使用探針座X-Y-Z三個微調(diào)旋鈕,慢慢的將探針移至被測點,此時動作要小心且緩慢，以防動作過大誤傷芯片，當探針針尖懸空于被測點上空時，可先用Y軸旋鈕將探針退后少許，再使用Z軸旋鈕進行下針，最后則使用X軸旋鈕左右滑動，觀察是否有少許劃痕，證明是否已經(jīng)接觸。
1. 確保針尖和被測點接觸良好后，則可以通過連接的測試設(shè)備開始測試。
廣東深圳cindbestCM-4小型手動探針臺廠家
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CINDBEST半導體儀器營銷事業(yè)部代理的設(shè)備包括半導體檢測設(shè)備：CINDBEST品牌探針臺和激光修復儀，代理keithleyI-V/C-V參數(shù)測試儀，agilent網(wǎng)絡(luò)分析儀，newwave激光系統(tǒng)，motic金相顯微鏡，EMMI微光顯微鏡，X射線，C-SAM超聲波探測，電子顯微鏡。目前已服務(wù)30幾家研究機構(gòu)和高校。
如需訂購探針測試臺歡迎來電洽談業(yè)務(wù)，13249756822，[email protected] 森東寶科技吳小姐。
