產(chǎn)品詳情
SKIIP1513GB172-3DL
IGBT管在使用過程中，經(jīng)常受到容性或感性負(fù)載的沖擊，發(fā)生過負(fù)荷甚至負(fù)載短路等，可能導(dǎo)致IGBT管損壞。IGBT管在使用時的損壞原因主要有過電壓損壞和靜電損壞IGBT管在關(guān)斷時，由于電路中存在電感成分，關(guān)斷瞬間將產(chǎn)生尖峰電壓。如果尖峰電壓超過IGBT管器件的最高峰值電壓，將造成IGBT管擊穿損壞。IGBT管過電壓損壞可分為集電極一柵極過電壓、柵極一發(fā)射極過電壓、高du/dt過電壓等。
大多數(shù)過電壓保護(hù)電路的設(shè)計都比較完善，但是對于由高du/dt所致的過電壓故障，在設(shè)計中基本上都是采用無感電容或者RCD結(jié)構(gòu)的吸收電路。由于吸收電路設(shè)計的吸收容量不夠，會造成IGBT管損壞，對此可采用電壓鉗位，往往在集電極和柵極兩端并接齊納二極管（推薦使用美國Diodes公司的1.5KE××A產(chǎn)品系列），采用柵極電壓動態(tài)控制方式。當(dāng)集電極電壓瞬間超過齊納二極管的鉗位電壓時，超出的電壓將疊加在柵極上（米勒效應(yīng)起作用），避免了IGBT管因受集電極一發(fā)射極過電壓而損壞。
采用柵極電壓動態(tài)控制可以解決由于過高的du/dt帶來的集電極一發(fā)射極瞬間過電壓問題，但是它的弊端是：當(dāng)IGBT管處于感性負(fù)載運(yùn)行狀態(tài)時，關(guān)斷的IGBT管由于其反并聯(lián)二極管（續(xù)流二極管）的恢復(fù)，其集電極和發(fā)射極兩端的電壓急劇上升，承受很高的瞬間du/dt。在多數(shù)情況下該du/dt值要比IGBT管正常關(guān)斷時的集電極一發(fā)射極電壓上升率高。
由于米勒電容(Cres)的存在，該du/dt值將在集電極和柵極之間產(chǎn)生一個瞬間電流流向柵極驅(qū)動電路。該電流與柵極電路的阻抗相互作用，直接導(dǎo)致柵極一發(fā)射極電壓UGE升高，甚至超過IGBT管的開通門限電壓UGEth，出現(xiàn)的惡劣情況就是使IGBT管被誤觸發(fā)導(dǎo)通。
