產(chǎn)品詳情
CPCLS14.02技術
也就是說,壓痕接觸面積愈大,超聲硬度計的示值愈低。而非壓痕接觸大大地增加了壓頭與被測表面的接觸面積,致使硬度計示值偏低于真實值。試驗證明,洛氏硬度測量偏差在10HRC左右;布氏硬度測量偏差在20HB左右。解決辦法:在測量試樣硬度時,我們必須注意被測表面粗糙度是否符合硬度計的檢測條件。在正常使用硬度計的條件下,必須保證試樣的被測表面粗糙度值小于或等于Ra=0.8μm,若試樣的被測表面粗糙度值大于Ra=0.8μm,可以通過機械方法(上磨床)或手工方法,對被測表面進行研磨修整,法國凱茂KIMO使試樣的被測表面粗糙度達到檢側條件。
德國EMG公司電動執(zhí)行機構在性能、設計和使用方面的主要特點如下:
EMG 伺服閥 LLS 675/02
EMG 伺服閥 SV1-10/32/315-6
EMG 伺服閥 SV1-10/8/315/6SV1-10/16/120/6
EMG 伺服閥 SV1-10/48/315-6
EMG 伺服閥 SV1-10/16/315-6
EMG傳感器KLW 300.012
EMG 位置傳感器 KLW 150.012
EMG 傳感器 KLW 225.012
EMG 位置傳感器 KLW 360.012
EMG 位置傳感器 KLW150.012
EMG 位置傳感器 KLW225.012
EMG 位置傳感器 KLW300.012
EMG 位置傳感器 KLW450.012
EMG 位置傳感器 KLW600.012
EMG 伺服閥 SV1-10/8/315/6
EMG 伺服閥 SV1-10/48/315/6
EMG 伺服閥 SV1-10/32/100/6
EMG 伺服閥 SV1-10/8/120/6
EMG 伺服閥 SV1-10/4/120/6
EMG 伺服閥 SV2-16/125/315/1/1/01
EMG 濾芯 HFE400/10H
EMG 位移傳感器 KLM300/012
EMG 對中整流器 LLS675/02
EMG 光 LIC1075/11
EMG 電路處理板 EVK2.12
EMG 電源 BK11.02
EMG 處理器 MCU16.1
EMG VKI3-11-200/1600/750/M/E/W/A/
EMG 對中光源 LID2-800.2C
EMG 對中光源 LID2-800.2C
EMG 電動執(zhí)行器 DMC2000-B3-160-SMC002-DCS
EMG 位移傳感器 KLW300.012
EMG 電路板 LIC2.01.1
EMG 推動桿EB1250-60IIW5T
EMG 推動桿EB800-60II
EMG 推動桿EB220-50/2IIW5T
EMG 推動桿EB300-50IIW5T
EMG 發(fā)射光源L1C770/01-24VDC/3.0A
EMG 制動器ED121/6 2LL5 551-1
EMG 光電探頭EVK2-CP/800.71L/R
EMG 放大器EVB03/235351
EMG 對中控制SMI 2.11.1/2358100134300
EMG 電路板SMI 2.11.3/235990
EMG 泵DMC 249-A-40
EMG 泵DMC 249-A-50
EMG 泵DMC 30 A-80
EMG 泵DPMC 59-V-8
EMG 位置傳感器LWH-0300
EMG 電動執(zhí)行器DMCR59-B1-10
EMG 伺服閥SV1-10/32/315/6
EMG 伺服閥SV1-10/32/315/8
EMG 伺服閥SV1-10/48/315/8
EMG 伺服閥SV2-10/64/210/6
EMG對中光源LID2-800.2C
EMG KLW300-012
CPC LS14.02
KLW 360.012
EPC EVM2-CP/1300.71/L/R
EPC CCDPro 5000
CPC LS13.01
EMG光電式測量傳器 EVM2-CP/1850 71/L/R
EMG高頻光源 LLS875/01
EMG數(shù)字式控制器 ICON SE+VS/AE1054
EMG適配器 EVB03.01
CPCLS14.02技術
,如果誤差周期是20mm,查閱機床手冊我們發(fā)現(xiàn)絲杠的導距也是20mm,很顯然誤差可能與絲杠旋轉問題有關,絲杠可能在近的一次維修或機床移動時被弄彎了,或者絲杠偏心旋轉。偏移偏移是指去程和回程兩次測試之間具有不變的垂直偏移。產(chǎn)生偏移曲線的可能原因主要是機床方面的問題,如反向間隙未補償或不當補償、車架與導軌之間存在間隙(松動)等。針對以上問題可采取以下解決措施:絲杠/滾珠絲桿驅動裝置;檢查球狀螺母或絲杠是否磨損;檢查絲杠軸承的端部浮動情況;使用角度光學鏡組檢查軸線反轉時的車架角度間隙;檢查控制器內設置的反向間隙補償是否正確;機架和小齒驅動裝置;檢查牙是否正確嚙合;檢查齒輪箱是否磨損和線性編碼器系統(tǒng)的狀況。
Danfoss 丹佛斯 柱塞泵 APP1.5 180B3043
Danfoss 丹佛斯 柱塞泵 APP3.5 180B3032
Danfoss 丹佛斯 柱塞泵 APP0.6 180B3048
Danfoss 丹佛斯 柱塞泵 APP2.2 180B3045
Danfoss 丹佛斯 柱塞泵 APP8.2 180B3008
Danfoss 丹佛斯 柱塞泵_APPW8.2_83bar_138.5L_180B3078
柱塞杠套件\APP21-46\180B4166
柱塞套件\APP261500&APP30-46\180B4199
機械密封\APP21-46180B4631
沖洗閥套件\APP21-46&APPWHC15-30\180B4170
斜盤套件\APP21\1200&APP26\1500180B4167
閥板套件\APP21-26180B4165
接口法蘭套件\APP21-46&APPWHC15-30\180B4633
保持球套件\APP21-26&APP301500\180B4164
密封套件\APP21-46180B4632不含機械密封
穆格MOOG伺服閥 D661-6393C
穆格MOOG伺服閥 D661-4770
穆格MOOG伺服閥 D662-4194/D061-9420
穆格MOOG伺服閥 D662-4141/D062-9320
MOOG 穆格伺服閥 G761-3033B
MOOG 穆格伺服閥 G761-3034B
MOOG 穆格伺服閥 G761-3023B
MOOG 穆格伺服閥 G761-3002B
EEV 磁控管 MG5223
EEV 磁控管 MG5436
EEV 磁控管 MG5424
EEV 磁控管 MG5223F
INTREPID 安全門 UDG-22
INTREPID 安全門 UDG-27
INTREPID 安全門 UDG-32
INTREPID 安全門 UDG-37
INTREPID 重力關閉安全門 UDG-22
INTREPID 重力關閉安全門 UDG-27
INTREPID 重力關閉安全門 UDG-32
INTREPID 重力關閉安全門 UDG-37
CPCLS14.02技術
20世紀80年始,非制冷紅外焦平面陣列探測器在美國支持下發(fā)展起來的,在1992年全部研發(fā)完成后才對外公布。初期技術路線包括德州儀器研制的BST熱釋電探測器和霍尼韋爾研制的氧化釩(VOx)微測輻射熱計探測器。后來由于熱釋電技術本身的一些局限性,微測輻射熱計探測器逐漸勝出。2009年,L-3公司終宣布停止繼續(xù)生產(chǎn)熱釋電探測器。之后,法國的CEA/LETI以及德州儀器公司又分別研制了非晶硅(a-Si)微測輻射熱計探測器。