產(chǎn)品詳情
只需一次設(shè)定即可在任意方向測量6個自由度!
獨特的技術(shù)、光學(xué)滾擺測量以及光纖發(fā)射器
XM-60是一款激光測量系統(tǒng),只需一次設(shè)定即可沿線性軸同時測量6個自由度的誤差。它具有強大的診斷工具,通過一次采集就可以測量軸的所有幾何誤差。
對于執(zhí)行空間補償?shù)挠脩魜碚f,XM-60為他們獲得所需數(shù)據(jù)組提供了一種快速精準(zhǔn)的方法。所有測量均為光學(xué)測量,可在任意方向執(zhí)行。
主要特性與優(yōu)點:
·快速 — 利用傳統(tǒng)激光技術(shù),一次安裝即可同時測量線性、俯仰、
扭擺、滾擺、水平方向和垂直方向直線度。
·簡單 — 設(shè)定簡單,其他干涉儀系統(tǒng)使用者很快就能熟練使用。自
動檢測軸的正負方向和圖形準(zhǔn)直減少了人為誤差。
·可靠 — 直接測量所有誤差,允許用戶在測試過程中查看結(jié)果。
·強大 — 獨特的光學(xué)滾擺測量系統(tǒng)能夠在任一方向執(zhí)行滾擺測量。
概述
輕型發(fā)射器通過光導(dǎo)纖維遠離發(fā)熱的激光源,從而減少測量點處的熱影響。發(fā)射器可直接通過其側(cè)面甚至后面安裝到機器上或者上下倒置安裝,非常適用于難以接近的機器區(qū)域。
接收器可進行完全無線操作,由充電電池供電,從而在機器移動中避免電纜拖拽,因為在測量過程中電纜拖拽可能會引起誤差或激光束“斷光”。
XM-60隨附CARTO 2.0軟件包,可指導(dǎo)用戶完成測量過程。CARTO包括Capture(數(shù)據(jù)采集)和Explore(數(shù)據(jù)瀏覽)應(yīng)用,可按照國際上各種主要標(biāo)準(zhǔn)提供數(shù)據(jù)采集和分析功能。
性能技術(shù)指標(biāo):
1、線性
測量精度:±0.5 ppm(使用環(huán)境補償)
分辨率:1 nm
測量范圍:0 m至4 m
2、角度(俯仰/扭擺)
精度:±0.006A ±(0.5微弧度 +0.1M微弧度)
(M = 測量的距離,單位:米)
(A = 顯示的角度讀數(shù))
分辨率:0.03微弧度
測量范圍:±500微弧度
3、直線度
測量精度:±0.01A ±2 μm
(A = 顯示的直線度讀數(shù))
分辨率:0.25 μm
測量范圍;250 μm(半徑)
4、滾擺
精度:±0.01A ±9.1微弧度
(A = 顯示的角度讀數(shù))
分辨率:0.5微弧度
測量范圍:±500微弧度
注:精度值指標(biāo)為95%的統(tǒng)計置信度 (k=2)。精度值不包括將材料溫度歸一化為20 °C時與其有關(guān)的誤差。